एलडीबीआई लेजर एजिंग सेमीकंडक्टर टेस्ट सिस्टम मल्टी चैनल टेस्टिंग सिस्टम

LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingइसने एक बहुमुखी, उच्च-शक्ति, पानी से ठंडा उम्र बढ़ने परीक्षण प्रणाली को अभिनव रूप से विकसित किया है।
उत्पाद में उच्च धारा संकीर्ण नाड़ी निरंतर धारा, स्थिर धारा और मजबूत हस्तक्षेप विरोधी क्षमता की उत्कृष्ट विशेषताएं हैं।इसमें ओवर वोल्टेज के लिए दोहरी सुरक्षा सर्किट भी शामिल हैंउच्च शक्ति वाले अर्धचालक लेजर चिप्स और पंप लेजर मॉड्यूल के उम्र बढ़ने के परीक्षण के लिए एक पूर्ण समाधान प्रदान करता है।

उत्पाद की विशेषताएं

▪एकल दराज 16 चैनलों तक का समर्थन करता है, अधिकतम 8 दराजः प्रत्येक दराज में 16 स्वतंत्र चैनलों तक का स्थान हो सकता है, जिसमें कुल 8 दराज तक की क्षमता होती है।

▪स्वतंत्र चैनलः सभी चैनल स्वतंत्र रूप से काम करते हैं, जिससे परीक्षणों के बीच कोई हस्तक्षेप सुनिश्चित नहीं होता है।

▪वर्तमान रीडबैक और सिंक्रनाइज्ड मापः स्वचालित रूप से वर्तमान रीडबैक के साथ एक साथ वोल्टेज, ऑप्टिकल पावर और अन्य मापदंडों को मापता है।

▪हीटिंग फिल्म और तापमान नियंत्रणः तापमान नियंत्रण के लिए हीटिंग फिल्म का उपयोग करता है, जिसमें कमरे के तापमान से 125°C तक की सीमा होती है।

▪सर्ज रेसिस्टेंट पावर सप्लाईः स्थिर संचालन सुनिश्चित करने के लिए पावर सर्ज का सामना करने के लिए डिज़ाइन किया गया।

▪जल-कूल्ड लाइट कलेक्शन डिवाइसः ऑपरेशन के दौरान उत्पन्न गर्मी को प्रबंधित करने के लिए जल शीतलन से सुसज्जित।

▪उच्च तापमान सटीकताः ±1°C की पूर्ण तापमान सटीकता, विभिन्न डीयूटी (परीक्षण के तहत उपकरण) में ±2°C की तापमान एकरूपता के साथ।

▪स्वचालित उम्र बढ़ने डेटा लॉगिंग और निर्यातः स्वचालित रूप से उम्र बढ़ने परीक्षण डेटा रिकॉर्ड करता है और विश्लेषण के लिए डेटा निर्यात का समर्थन करता है।

उत्पाद पैरामीटर

आवेदन

अर्धचालक शक्ति उपकरण का परीक्षण

▪सटीक रूप से MOSFET, BJT, IGBT, SiC (सिलिकॉन कार्बाइड), और GaN (गैलियम नाइट्राइड) जैसे बिजली उपकरणों के स्थिर मापदंडों को मापता है, जिसमें ब्रेकडाउन वोल्टेज, रिसाव करंट, ऑन प्रतिरोध,थ्रेशोल्ड वोल्टेज, जंक्शन कैपेसिटी आदि।

▪तीसरी पीढ़ी के अर्धचालकों (जैसे, SiC, GaN) के लिए उच्च वोल्टेज, उच्च धारा और उच्च परिशुद्धता परीक्षण आवश्यकताओं का समर्थन करता है।

अर्धचालक सामग्री विद्युत गुण अनुसंधान

▪अर्धचालक सामग्री (जैसे, धारा, वोल्टेज, प्रतिरोध परिवर्तन) के लिए विद्युत प्रदर्शन मापदंड परीक्षण प्रदान करता है, सामग्री अनुसंधान एवं विकास और प्रक्रिया सत्यापन का समर्थन करता है।

नई ऊर्जा वाहन बिजली इलेक्ट्रॉनिक्स घटक परीक्षण

▪ऑटोमोटिव ग्रेड IGBT और SiC उपकरणों के स्थिर पैरामीटर परीक्षण पर ध्यान केंद्रित करता है, 800V आर्किटेक्चर के तहत उच्च वोल्टेज और उच्च वर्तमान परीक्षण मांगों को पूरा करता है।मुख्य इन्वर्टर और चार्जिंग पाइल जैसे मुख्य अनुप्रयोगों को कवर करता है.

औद्योगिक स्वचालन उत्पादन लाइन परीक्षण और गुणवत्ता नियंत्रण

▪वेफर्स, चिप्स, उपकरणों और मॉड्यूल के लिए स्वचालित स्थैतिक पैरामीटर परीक्षण सहित प्रयोगशालाओं से बड़े पैमाने पर उत्पादन लाइनों तक एंड-टू-एंड परीक्षण को सक्षम करता है।अर्ध स्वचालित (PMST-MP) और पूर्ण स्वचालित (PMST-AP) उत्पादन प्रणालियों के साथ संगत.

शैक्षणिक एवं अनुसंधान संस्थान शिक्षण एवं प्रयोग

▪एकीकृत सर्किट और बिजली उपकरणों में भौतिक विशेषता प्रयोगों के लिए उपयोग किया जाता है, जो अर्धचालक उपकरण सिद्धांतों और एनालॉग इलेक्ट्रॉनिक्स जैसे पाठ्यक्रमों को कवर करता है।चिप परीक्षण अभ्यास केंद्रों के विकास की सुविधा प्रदान करता है.