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| ब्रांड नाम: | PRECISE INSTRUMENT |
| मॉडल संख्या: | HCP200 |
| एमओक्यू: | 1 इकाई |
| प्रसव का समय: | 2-8 सप्ताह |
| भुगतान की शर्तें: | टी/टी |
एचसीपी200 सौर सेल मॉड्यूल के लिए उच्च धारा एसएमयू माप पल्स स्रोत माप इकाई
HCP200 उच्च वर्तमान डेस्कटॉप पल्स स्रोत माप इकाई समर्थन DC और पल्स आउटपुट, अधिकतम पल्स आउटपुट वर्तमान 50A और अधिकतम आउटपुट वोल्टेज 50V के साथ। यह चार चतुर्भुज संचालन का समर्थन करता है,0 तक के आउटपुट और माप सटीकता के साथयह सौर सेल मॉड्यूल और आरएफ डिवाइस के परीक्षण के लिए बहुत उपयुक्त है।
उत्पाद की विशेषताएं
▪250k नमूनाकरण दर और 50A पल्स रेंज सौर सेल मॉड्यूल और आरएफ डिवाइस परीक्षण के लिए विशेष रूप से उपयुक्त हैं।
▪इसका उपयोग अर्धचालकों के विद्युत प्रदर्शन मापदंडों का परीक्षण करने के लिए किया जा सकता हैः I,V,R, और यह सार्वभौमिक और मानकीकृत उपकरण है।
▪मानक एससीपीआई निर्देश सेट और डीएलएल पुस्तकालय, और ग्राहक के लिए माध्यमिक विकसित करने के लिए आसान।
▪2-वायर/4-वायर माप फ़ंक्शन का समर्थन करता है।
▪आईओ ट्रिगरिंग इनपुट और आउटपुट, अधिकतम 5 वी, कॉन्फ़िगर करने योग्य ट्रिगरिंग ध्रुवीयता के साथ समर्थन करता है।
उत्पाद पैरामीटर
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पद |
पैरामीटर |
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वी-रेंज |
300 एमवी-50 वी |
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आई-रेंज |
डीसी मोडः 100nA ₹30A/पल्स मोडः 100nA ₹50A |
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शक्ति सीमाएँ |
डीसी मोडः अधिकतम 300W/पल्स मोडः अधिकतम 5000W |
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मिनी पल्स चौड़ाई |
80 μs |
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नमूनाकरण दर |
250,000 S/s |
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सटीकता |
0.1% |
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ट्रिगर करना |
आईओ ट्रिगर इनपुट और आउटपुट का समर्थन करता है, अधिकतम 5V, कॉन्फ़िगर करने योग्य ट्रिगर ध्रुवीयता के साथ |
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प्रदर्शन |
5.1 इंच का टचस्क्रीन |
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इंटरफेस |
RS-232, GPIB, LAN |
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भंडारण |
यूएसबी समर्थन |
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विद्युत आपूर्ति |
100-240V AC, 50/60Hz |
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कार्य तापमान |
25±10°C |
आवेदन
▪पृथक अर्धचालक IV परीक्षण
▪चौड़ी बैंडगैप अर्धचालक IV परीक्षण
▪GaN, SIC और अन्य कम्पोजिट सामग्री और उपकरणों का विशेषता विश्लेषण
▪सौर सेल मॉड्यूल का परीक्षण
▪आरएफ उपकरण का आई-वी परीक्षण
लाभ
▪अधिकतम वोल्टेज 50V
▪5.1 इंच का फ्रंट पैनल डिस्प्ले
▪निःशुल्क व्यावसायिक परीक्षण सॉफ्टवेयर
▪DC अधिकतम 30A, पल्स अधिकतम 50A
विडियो
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| ब्रांड नाम: | PRECISE INSTRUMENT |
| मॉडल संख्या: | HCP200 |
| एमओक्यू: | 1 इकाई |
| पैकेजिंग विवरण: | गत्ते का डिब्बा। |
| भुगतान की शर्तें: | टी/टी |
एचसीपी200 सौर सेल मॉड्यूल के लिए उच्च धारा एसएमयू माप पल्स स्रोत माप इकाई
HCP200 उच्च वर्तमान डेस्कटॉप पल्स स्रोत माप इकाई समर्थन DC और पल्स आउटपुट, अधिकतम पल्स आउटपुट वर्तमान 50A और अधिकतम आउटपुट वोल्टेज 50V के साथ। यह चार चतुर्भुज संचालन का समर्थन करता है,0 तक के आउटपुट और माप सटीकता के साथयह सौर सेल मॉड्यूल और आरएफ डिवाइस के परीक्षण के लिए बहुत उपयुक्त है।
उत्पाद की विशेषताएं
▪250k नमूनाकरण दर और 50A पल्स रेंज सौर सेल मॉड्यूल और आरएफ डिवाइस परीक्षण के लिए विशेष रूप से उपयुक्त हैं।
▪इसका उपयोग अर्धचालकों के विद्युत प्रदर्शन मापदंडों का परीक्षण करने के लिए किया जा सकता हैः I,V,R, और यह सार्वभौमिक और मानकीकृत उपकरण है।
▪मानक एससीपीआई निर्देश सेट और डीएलएल पुस्तकालय, और ग्राहक के लिए माध्यमिक विकसित करने के लिए आसान।
▪2-वायर/4-वायर माप फ़ंक्शन का समर्थन करता है।
▪आईओ ट्रिगरिंग इनपुट और आउटपुट, अधिकतम 5 वी, कॉन्फ़िगर करने योग्य ट्रिगरिंग ध्रुवीयता के साथ समर्थन करता है।
उत्पाद पैरामीटर
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पद |
पैरामीटर |
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वी-रेंज |
300 एमवी-50 वी |
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आई-रेंज |
डीसी मोडः 100nA ₹30A/पल्स मोडः 100nA ₹50A |
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शक्ति सीमाएँ |
डीसी मोडः अधिकतम 300W/पल्स मोडः अधिकतम 5000W |
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मिनी पल्स चौड़ाई |
80 μs |
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नमूनाकरण दर |
250,000 S/s |
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सटीकता |
0.1% |
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ट्रिगर करना |
आईओ ट्रिगर इनपुट और आउटपुट का समर्थन करता है, अधिकतम 5V, कॉन्फ़िगर करने योग्य ट्रिगर ध्रुवीयता के साथ |
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प्रदर्शन |
5.1 इंच का टचस्क्रीन |
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इंटरफेस |
RS-232, GPIB, LAN |
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भंडारण |
यूएसबी समर्थन |
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विद्युत आपूर्ति |
100-240V AC, 50/60Hz |
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कार्य तापमान |
25±10°C |
आवेदन
▪पृथक अर्धचालक IV परीक्षण
▪चौड़ी बैंडगैप अर्धचालक IV परीक्षण
▪GaN, SIC और अन्य कम्पोजिट सामग्री और उपकरणों का विशेषता विश्लेषण
▪सौर सेल मॉड्यूल का परीक्षण
▪आरएफ उपकरण का आई-वी परीक्षण
लाभ
▪अधिकतम वोल्टेज 50V
▪5.1 इंच का फ्रंट पैनल डिस्प्ले
▪निःशुल्क व्यावसायिक परीक्षण सॉफ्टवेयर
▪DC अधिकतम 30A, पल्स अधिकतम 50A
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